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X-RAY检测设备的检验影像如何评判BGA器件焊接质量问题?
2021-06-02 09:56:43 18

BGA (Ball Grid Array)-球状引脚栅格阵列封装技术,高密度表面装配封装技术。在封装底部,引脚都成球状并排列成一个类似于格子的图案,由此命名为BGA。主板控制芯片组多采用此类封装技术,材料多为陶瓷。采用BGA技术封装的内存,可以使内存在体积不变的情况下,内存容量提高两到三倍,BGA与TSOP相比,具有更小体积,更好的散热性能和电性能。BGA封装技术使每平方英寸的存储量有了很大提升,采用BGA封装技术的内存产品在相同容量下,体积只有TSOP封装的三分之一;与传统TSOP封装方式相比,BGA封装方式有更加快速有效的散热途径。

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作为小型器件典范的BGA器件近些年来在电子产品中应用非常广泛,虽然BGA器件有诸多方面的优点,但仍存在着无法改变的不足之处:即BGA器件在焊接完成之后,由于其焊点全部在器件本体腹底之下,因此既无法采用传统的目测方法观测检验全部焊点的焊接质量,也不能应用AOI (自动光学检测)设备对焊点外观做质量评判,只能采用X-ray检测设备对BGA器件焊点的物理结构进行检测。X-ray检测设备是基于X射线的影像原理,由x射线发生装置发出X射线,对被检测印制板组及BGA器件进行照射,利用X射线不能穿透锡、铅等密度大且厚的物质,可形成深色影像,而会轻易穿透印制板及塑料封装等密度小且薄的物质,不会形成影像的现象,实现对BGA器件焊接焊点的质量检测。图片关键词

X-ray检测设备的影像区内,BGA器件无明显位置偏移和翘起的现象,BGA焊料球的影像尺寸、形状、颜色和对比度应均匀一致,焊点影像应呈现形状规则的圆形,并且边界光滑,轮廓清晰,无回流焊接不良的迹象。BGA器件焊点缺陷主要有焊料桥连、焊锡珠、空洞、错位、开路和焊料球丢失、焊接连接处破裂、虚焊。

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利用X-ray检测设备对BGA器件焊接质量进行检测是一种高性价比的检测手段。随着新技术的发展,超高分辨率、智能化的X-ray检测设备不仅会为BGA器件组装提供省时、省力、可靠的保障,也能够在电子产品故障分析中扮演重要的角色,提高故障排查效率。


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