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高精度X射线检测系统X-7900
2021-03-24 17:54:15 14

       半导体X-RAY检测设备 X-7900可以检测半导体5um以下缺陷、一键测量汽包大小及空洞率,并可以将缺陷几何放大400X,

检测图像系统放大2500X。


应用范围 (Application):

1. 半导体封装 (Semiconductor packaging)

2. 连接器模块 ( Connector module) 

3. 压铸件 (Die Casting) 

4. 汽车行业 (Automobile industry) 

5. 电池 (Battery)

6. LED(Led packaging) 

7. PCB'A 组装 (PCB'A assembly) 

8. 陶瓷 (Ceramics)

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